성균관대 ICT명품인재양성사업단 Bui 박사, 추현승 교수가 연구한 "다중 스케일 표현학습을 통한 황반변성(AMD) 병변 판독 시스템"은 전역-국소 교차 어텐션(Cross Attention) 및 전문가 협업(Mixture-of-Experts) AI 기술을 활용해 전역 안저 이미지와 중심부 황반 영역의 특징을 동시에 학습하는 것이 가능하다. 이 기술을 활용할 경우 기존의 단순 의료영상 판독 방식을 개선해, 실제 임상의와 동일한 판독 프로세스로 황반변성의 조기 병변을 검출하고 진단 정확도를 획기적으로 향상시킬 수 있다. 본 연구는 SCI급 저널 3건에 게재되었으며, 5건의 국내외 특허로 출원되었다.